型號 |
GT-TC-80 |
GT-TC-150 |
GT-TC-225 |
GT-TC-500 |
GT-TC-800 |
GT-TC-1000 |
內箱尺寸(WxHxD)mm |
400x500x400 |
500x600x500 |
500x750x600 |
700x800x900 |
1000x1000x800 |
1000x1000x1000 |
溫度范圍 |
G:-20℃ ~ +100℃(150℃);Z:-40℃ ~ +100℃(150℃);D:-70℃ ~ +100℃(150℃) |
結構 |
三箱式(低溫區、高溫區、測試區) / 兩箱式(低溫區、高溫區、吊籃) |
氣門裝置 |
強制的空氣裝置氣門 / 吊籃 |
內箱材質 |
鏡面不銹鋼 SUS 304 |
外箱材質 |
霧面拉絲不銹鋼板 / 冷軋鋼板烤漆 |
測試架 |
不銹鋼架 |
冷凍系統 |
二段式 |
冷卻方式 |
半密閉式雙段壓縮機(水冷式)/全封閉式雙段壓縮機(風冷式) |
高溫區溫度 |
+60 ℃~ +200 ℃ |
低溫區溫度 |
-10 ℃~ -80 ℃ /-10 ℃~ -70 ℃ |
高溫沖擊溫度范圍 |
+60 ℃~ +150℃ |
低溫沖擊溫度范圍 |
-10 ℃~ -55 ℃ /-10 ℃~ -65 ℃ |
溫度均勻度 |
± 2 ℃ |
溫度波動度 |
± 1.0 ℃ |
高溫沖擊時間 |
Rt ~ +150 ℃ /5min |
低溫沖擊時間 |
Rt ~ -55 ℃ /5min Rt ~ -65 ℃ /5min |
預熱時間 |
45min |
預冷時間 |
100min |
注:另可根據客戶的要求設計客戶滿意的電子元器件高低溫沖擊測試箱 |